介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀在試驗(yàn)過(guò)程中常出現(xiàn)問(wèn)題及解決方案：

測(cè)量值異常

問(wèn)題表現(xiàn) ：測(cè)量結(jié)果明顯偏離預(yù)期值，如介電常數(shù)或介質(zhì)損耗因數(shù)過(guò)大、過(guò)小或出現(xiàn)負(fù)值等。

可能原因及解決方案 ：

儀器接地不良 ：應(yīng)刮凈接地點(diǎn)上的油漆和銹蝕，保證接地電阻為 0，確保儀器良好接地。

測(cè)試線(xiàn)問(wèn)題 ：檢查測(cè)試線(xiàn)是否有斷路、短路或接觸不良的情況，如有損壞需及時(shí)更換；使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容影響。

樣品問(wèn)題 ：樣品表面污穢、潮濕、有氣泡或孔隙等會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。測(cè)試前應(yīng)清潔樣品表面，對(duì)于液體樣品要進(jìn)行真空脫氣處理，固體樣品則需去除表面油污、灰塵等雜質(zhì)，粉末樣品要用壓片機(jī)壓制成厚度均勻的圓片。

環(huán)境因素干擾 ：空氣濕度過(guò)大、電磁干擾等均可能導(dǎo)致測(cè)量值異常。可在儀器周?chē)罱ǚ莱毖b置或加裝屏蔽設(shè)備，如使用金屬屏蔽箱、雙層屏蔽電纜等，同時(shí)避免在強(qiáng)電磁干擾環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試。

測(cè)量方法選擇不當(dāng) ：不同的測(cè)量方法適用于不同類(lèi)型和狀態(tài)的樣品，如直接測(cè)量 CVT 或末端屏蔽法測(cè)量電磁式 PT 時(shí)可能出現(xiàn)負(fù)介損，應(yīng)改用自激法或其他合適的方法。

測(cè)量值不穩(wěn)定

問(wèn)題表現(xiàn) ：多次測(cè)量同一試樣時(shí)，測(cè)量結(jié)果波動(dòng)較大，無(wú)法得到穩(wěn)定的讀數(shù)。

可能原因及解決方案 ：

搭鉤接觸不良 ：若使用搭鉤連接試品，需確保搭鉤與試品接觸良好，避免因接觸點(diǎn)放電引起數(shù)據(jù)波動(dòng)，對(duì)于引流線(xiàn)氧化層厚或易擺動(dòng)的情況，要及時(shí)處理氧化層并固定引流線(xiàn)。

儀器預(yù)熱不足 ：儀器開(kāi)機(jī)后未充分預(yù)熱，性能尚未穩(wěn)定，應(yīng)按照儀器說(shuō)明書(shū)要求進(jìn)行預(yù)熱，一般預(yù)熱 15-30 分鐘后再開(kāi)始測(cè)試。

電源電壓不穩(wěn)定 ：使用發(fā)電機(jī)供電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定，可采用定頻 50Hz 模式工作，或使用穩(wěn)壓電源為儀器供電，以保證測(cè)試條件的穩(wěn)定。

測(cè)量結(jié)果重復(fù)性差

問(wèn)題表現(xiàn) ：對(duì)同一批次的樣品進(jìn)行多次測(cè)量，所得結(jié)果的重復(fù)性較差。

可能原因及解決方案 ：

樣品制備不均勻 ：樣品的厚度、密度、形狀等不一致會(huì)影響測(cè)量結(jié)果的重復(fù)性。要嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)制備樣品，確保樣品的均勻性和一致性。

測(cè)量條件未保持一致 ：每次測(cè)量時(shí)的環(huán)境溫度、濕度、電極壓力等條件不一致，會(huì)導(dǎo)致結(jié)果重復(fù)性差。應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境條件下進(jìn)行測(cè)量，并采用帶彈簧加壓的電極夾具，確保接觸壓力穩(wěn)定。

儀器故障

問(wèn)題表現(xiàn) ：儀器無(wú)法正常啟動(dòng)、無(wú)響應(yīng)、顯示異常等。

可能原因及解決方案 ：

電源故障 ：檢查電源插頭是否插好、電源線(xiàn)是否損壞、保險(xiǎn)絲是否熔斷等，如保險(xiǎn)絲熔斷則更換同規(guī)格保險(xiǎn)絲。

儀器內(nèi)部元件損壞 ：使用萬(wàn)用表測(cè)量?jī)x器內(nèi)部的電路元件，如電阻、電容、電感等，查看是否有損壞，如有損壞需及時(shí)更換相同規(guī)格和型號(hào)的元件。